Pilt: Eric Cockayne, NIST
Nendel piltidel on kujutatud lillesarnaseid defekte grafeenis. Pildid a ja c on saadud skaneeriva tunnelmikroskoobi abil ning pilt b loodi arvutimudeli põhjal. Hiljutise uurimuse põhjal võivad need defektid vähendata mehaanilist pinget grafeeni struktuuris, võimaldades aatomitel vabamalt asetseda. Selline pinge võib tekkida grafeeni kasvatamisel või grafeenlehe venitamisel.
Teadusartikkel: “Grain boundary loops in graphene“