Pildid kulla ja hõbeda nanoosakestest, mille valmistamiseks ühendati röntgen-fotograafia ja anomaalse röntegendifraktsioonmeetodid. Pilt: 2012 Yukio Takahashi
Võimet materjali kindlaks määrata ja nende omadusi ennustada peetakse eluliselt oluliseks, eriti nanotehnoloogia laienevas vallas. Elektron- ja aatomjõumikroskoopia abil on võimalik kategoriseerida aatomeid õhukestes aine lehtedes ning jämedamates näidistes väikestel aladel. Palju keerulisemaks on aga osutunud nanostruktuuride kaardistamine suurtes jämedates objektides. Tavaliselt kuvandatakse kõvasid bioloogilisi objejte, näiteks luid, röntgenkiirte abil. Röntgenkiirtel on aga piiratud suurusega fookuspunkt, niisiis ei saa neid fokuseerida nanoskaalas objektidele.
Nüüd õnnestus Yukio Takahashil ja tema kolleegidel Osaka Ülikoolis, koostöös uurijatega Nagoya Ülikoolist ja RIKEN Spring-8 keskusest Hyogos, valmistada esmakordselt kahemõõtmelisi kuvandeid nanostruktuuridest, mis on ümbritsetud ainetega suures skaalas. Nende töö oli võimalik tänu sellele, et nad kavandasid uue röntgendifraktsioonmikroskoopia süsteemi, mis ei vaja läätse.
Loe lähemalt siit.
Teadusartikkel: „Multiscale element mapping of buried structures by ptychographic x-ray diffraction microscopy using anomalous scattering“