• Arhiiv
    • Eesti füüsikapäevad ja füüsikaõpetajate päevad
      • 2017.a. füüsikapäevad
      • 2016.a. füüsikapäevad
      • 2015. a. füüsikapäevad
      • 2003.a. füüsikaõpetajate päev
    • EFS Täppisteaduste Suve- ja Sügiskoolid
      • 2017.a. sügiskool
      • 2016.a. sügiskool
      • 2015.a. sügiskool
      • 2014.a. sügiskool
      • 2013.a. suvekool
      • 2013.a. sügiskool
      • 2012.a. suvekool
      • 2012.a. sügiskool
      • 2011. a. suvekool
      • 2010. a. suvekool
      • 2010.a. sügiskool
      • 2009.a. sügiskool
      • 2008.a. suvekool
      • 2008.a. sügiskool
      • 2007. a. suvekool
      • 2007.a. sügiskool
      • 2006.a. suvekool
      • 2005.a. suvekool
      • 2005.a. sügiskool
      • 2004.a. suvekool
      • 2004.a. sügiskool
    • Füüsika õpetajate sügisseminarid Voorel
      • Voore 2017
      • Voore 2015
      • Voore 2011
      • Voore 2009
    • EFS aastaraamatud
    • Teaduslaagrid
    • Akadeemiline füüsikaolümpiaad
    • Tähe perepäevad TÄPE

FYYSIKA.EE

Elu, loodus, teadus ja tehnoloogia

  • Eestist endast
    • Arvamus
    • Teated
    • Persoon
    • Eesti füüsikaolümpiaadid
  • Teadusuudised
    • Eesti teadusuudised
      • Tartu Ülikool
      • KBFI
      • Tallinna Tehnikaülikool
      • Tõravere Observatoorium
    • FYYSIKA.EE hoiab silma peal – Teemad
    • Referaadinurgake
    • Päevapilt
  • Eesti Füüsika Selts
    • Teadusbuss
    • Füüsika, keemia ja bioloogia õpikojad
    • Füüsika e-õpikud
    • Eesti Füüsika Seltsi põhikiri
  • Füüsikaõpetajate osakond
    • Füüsikaõpetajate võrgustik
  • Füüsikaüliõpilaste Selts
  • Kontakt

Kortsud näitavad kile paksust

27.08.2007 by toimetaja

Massachusettsi Ülikooli teadlased on koostöös Hollandi ja Tšiili kolleegidega välja töötanud uue meetodi väga õhukeste kilede mehaaniliste omaduste määramiseks. Meetod on küllalt täpne, kuid palju lihtsam senistest röntgenkiirte peegeldumist kasutatavatest.

Katsete käigus uuriti kilesid läbimõõduga 31 kuni 233 nm. Kile pandi veepinnale ujuma ning selle keskele tilgutati veepiisk raadiusega alla 1mm. Kapilaarjõud tilga ja kile vahel tekitasid kiirekujuliselt tilga keskmest lähtuvaid kortse, mida uurima asuti.

Selgus, et kortsude arv on heas sõltuvuses tilga suurusest ja kile paksusest. Suured tilgad tekitasid rohkem kortse, samuti tekkis õhematele kiledele rohkem kortse. Seega tuleb kile paksuse määramiseks lihtsalt mõõta tilga diameeter ja kortsud üle lugeda.

Edasi hakkas uurimisrühm muutma kile koostist, muutes sellega materjali jäikust. Uurijad mõõtsid kortsude keskmise pikkuse ja tekid kindlaks, et see on funktsioon kile jäikusest ja paksusest. Et aga paksuse saab leida kortsude arvu abil on ka jäikus arvutatav.

Tulemuseks on meetod, mille abil saab kile parameetreid määrata lihtsalt optilise mikroskoobi abil, mis teeb töö palju odavamaks. Samuti pole jäikuse ja läbimõõdu määramiseks vaja korraldada kahte eraldi katset.

Koostas: Kaarel Piip

Allikas: Science

physicsworld.com

Filed Under: Teadusuudised

Copyright © 2026 · Eesti Füüsika Selts · Log in